對(duì)計(jì)算機(jī)考研數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)考點(diǎn)還不熟悉的同學(xué)們趕緊看過(guò)來(lái)吧！小編以“散列表”為例，為大家整理了有關(guān)2024計(jì)算機(jī)考研數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)考點(diǎn)的內(nèi)容，具體如下：
2024計(jì)算機(jī)考研數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)高頻考點(diǎn)：散列表
　　散列搜索的搜索過(guò)程是按照關(guān)鍵字來(lái)計(jì)算元素可能的存儲(chǔ)地址
　　確定一個(gè)函數(shù)，每個(gè)元素的關(guān)鍵字經(jīng)由這一函數(shù)映射出一個(gè)函數(shù)值
　　這樣的函數(shù)稱作散列函數(shù)，得到的值為散列地址，函數(shù)的值域?yàn)樯⒘械刂房臻g
　　好的散列函數(shù)應(yīng)該使得函數(shù)值盡可能均勻分布在散列地址空間
　　1)處理沖突：
　　a.開(kāi)地址法(線性探測(cè))
　　地址為i的單元發(fā)生沖突時(shí)，依次探測(cè)(i+1)%m，(i+2)%m…將元素插入第一個(gè)空單元。
　　即每次往后移動(dòng)一個(gè)存儲(chǔ)單元查找是否有空閑地址，允許循環(huán)，直到再次到達(dá)地址i或在此之前找到空閑地址。
　　缺點(diǎn)：n個(gè)被占用的單元連成一片時(shí)，后面的空單元被占用的可能性增加。
　　b.開(kāi)地址法(雙散列函數(shù)探測(cè))
　　當(dāng)i=h1(k)被占用時(shí)，
　　C=h2(k)然后依次探測(cè)(i+c)%m(i+2c)%m…
　　線性探測(cè)每次只移動(dòng)一個(gè)存儲(chǔ)單元，雙散列函數(shù)探測(cè)法中，每次移動(dòng)的大小由第二個(gè)散列函數(shù)決定。
　　缺點(diǎn)：由于尋找是跳躍性的，部分空單元可能總被跳過(guò)去，無(wú)法利用。
　　c.拉鏈法：將散列地址相同的元素鏈接起來(lái)，構(gòu)成一個(gè)線性鏈表，將各鏈表的表頭指針存入散列表。
　　2)裝載密度=存入散列表的節(jié)點(diǎn)個(gè)數(shù)散列地址空間大小。
　　3)開(kāi)地址法中，刪除一個(gè)結(jié)點(diǎn)時(shí)，只能在刪除的結(jié)點(diǎn)上做標(biāo)記，不能真正刪除，不然會(huì)影響其他的結(jié)點(diǎn)查找。
　　本文內(nèi)容整理于網(wǎng)絡(luò)，僅供參考。
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